1、設(shè)備的操作步驟如下1開實(shí)驗(yàn)室電源，包括實(shí)驗(yàn)室總電源，三相電源，儀器電源及冷卻循環(huán)水電源等2打開控制打開計(jì)算機(jī)，打開桌面的“XG Operation” ， 進(jìn)入“XG control RINT2200 TargetCu” 窗圖3測(cè)試樣品放置。

2、剛才隨便找了個(gè)，西安理工大的分析測(cè)試中心。

3、受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中。

4、3 AFM 原子力顯微鏡是一種表面觀測(cè)儀器，與掃描隧道顯微鏡相比，能觀測(cè)非導(dǎo)電樣品XRD通常薄膜厚度不夠的話，需要?jiǎng)冸x研磨制成粉末樣品SEM和AFM根據(jù)樣品的特性選擇一個(gè)測(cè)試就可以測(cè)試時(shí)通常是選擇同批次，同條件的。

5、方案一 采用XRD的測(cè)試方法，儀器是XRD，樣品可直接拿Fe基非晶軟磁材料去，那測(cè)試的譜圖結(jié)果就可以看到是晶體還是非晶體，非常簡(jiǎn)單的方案二 采用TEM的測(cè)試方法，儀器TEM，樣品需要Fe基非晶軟磁材料粉末加入酒精，然后滴到TEM。

6、電子衍射的原理可以參考XRD，觀測(cè)到的衍射花紋都是表面晶格的倒易格點(diǎn)，可能是一套，也可能是幾套一般，除了納米材料研究中在電鏡用電子衍射中常將衍射花紋作為晶格類型的佐證外，常規(guī)的LEED和RHEED并不作體材料三維晶格研究。

7、XRD可以測(cè)的是1結(jié)晶度的測(cè)定 結(jié)晶度定義為結(jié)晶部分重量與總的試樣重量之比的百分?jǐn)?shù)非晶態(tài)合金應(yīng)用非常廣泛，如軟磁材料等，而結(jié)晶度直接影響材料的性能，因此結(jié)晶度的測(cè)定就顯得尤為重要了測(cè)定結(jié)晶度的方法很多，但不。